Sumix MAX-Quantum 白光干涉儀 廠家代理

MAX-Quantum是一款自動(dòng)干涉儀，用于單次掃描中檢測(cè)MTP/MPO, ST, FC, SC, LC, MU, E2000類型的單光纖和多光纖連接器以及MT, MT- RJ插針。

MAX-Quantum 干涉儀同時(shí)提供端面幾何檢測(cè)、異常檢測(cè)和導(dǎo)孔平行度和角度測(cè)量。MAX-Quantum 干涉儀具有高光學(xué)分辨率，自動(dòng)對(duì)焦和視場(chǎng)角范圍廣，每排可測(cè)試16根光纖。

Sumix MAX-Quantum 干涉儀主要特征：
2D和3D表面輪廓分辨率高： 可以探測(cè)小至1.47 μm的表面細(xì)節(jié)。
自動(dòng)對(duì)焦： 只需點(diǎn)擊一下，可以最大限度地減少操作員的動(dòng)作。
結(jié)合異常檢測(cè)和幾何測(cè)試：快速檢查，提高工作效率。
快速測(cè)量：測(cè)量單光纖連接器1.4秒，測(cè)量多光纖連接器7秒。
與固定裝置兼容：克服MTP®/MPO測(cè)量中的電纜張力和套圈定位不確定性，并控制附加參數(shù)-導(dǎo)孔平行度和角度
MT16和MT32檢驗(yàn)：掌握最新的市場(chǎng)技術(shù)。
數(shù)據(jù)庫連接：將所有本地站點(diǎn)的測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在一個(gè)地方，并輕松將Sumix設(shè)備集成到您的制造系統(tǒng)中
業(yè)界的MaxInspect™自動(dòng)檢測(cè)軟件：測(cè)量曲率半徑，頂點(diǎn)偏移，纖維高度，芯傾角等。
遵從行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：根據(jù)IEC, Telcordia或您自己的合格/不合格標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試。

Sumix MAX-Quantum 干涉儀技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量技術(shù): 非接觸式，邁克爾遜干涉儀
鏡頭: NA = 0.22
照明: 綠色LED (530nm)
視場(chǎng): 6.0 × 4.4 mm
橫向分辨率: 1.47µm
放大倍數(shù): 200x(數(shù)碼變焦關(guān)閉)
聚焦: 自動(dòng)和手動(dòng)
最大圖像尺寸: 4096 × 3000像素

可匹配連接器/連接管(PC和APC): SC, FC, ST, LC, MU, E2000™, MTP®/MPO, MT16/32, MT-RJ, MT, SMA
顯微鏡模式: 是的
測(cè)量模式: 相移和白光
掃描計(jì)算時(shí)間（測(cè)量時(shí)間可能因計(jì)算機(jī)性能和連接器端面形狀而異）：單光纖1.4秒; MT12/24 7秒; MT16為7.2秒; 異常檢測(cè)MT24為7.57秒; MT72為10.4秒。
測(cè)量范圍: ROC (mm): 1至flat; 頂點(diǎn)偏移量(μm): 0 ~ 2000; 光纖高度* (μm):大于1000; 角度測(cè)量-全范圍(度):0至28
可重復(fù)性C.F.:     Roc: 0.9% (mt12);0.04% (SC / APC)
光纖高度:0.8 nm (MT12);0.1 nm (SC/APC)
角度:0.005度(MT12);0.0002度(SC/APC)
頂點(diǎn)偏移:0.04µm (SC/APC)
可重復(fù)性C.R. :   Roc: 1.2% (mt12);0.05% (SC / APC)
光纖高度:1.1 nm (MT12);0.4 nm (SC/APC)
角度:0.01度(MT12);0.006度(SC/APC)
頂點(diǎn)偏移:1.0µm (SC/APC)

Sumix MAX-Quantum 干涉儀系統(tǒng)需求：

Windows 10
Intel Core i7
4GB或更高內(nèi)存
內(nèi)置英特爾USB 3.0控制器
Microsoft Excel 2010或更高版本

MAX-Quantum干涉測(cè)量系統(tǒng)包含:
MAX-Quantum干涉儀
光學(xué)平面標(biāo)準(zhǔn)用于設(shè)備校準(zhǔn)
USB 3.0電纜
AC 適配器
包裝箱
MaxInspect™軟件
夾具和其他配件需另外訂購

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